概述
DATAEXP-SPC(簡(jiǎn)稱DE-SPC)是監(jiān)控和改善半導(dǎo)體制造過(guò)程的關(guān)鍵工具。通過(guò)收集Inline、Defect、WAT等數(shù)據(jù),并對(duì)參數(shù)配置各類圖形和規(guī)則,幫助客戶實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)生產(chǎn)過(guò)程的異常和穩(wěn)定性。DE-SPC支持多樣化數(shù)據(jù)采集、批量模型配置、多維度報(bào)表分析,構(gòu)造了高效的全閉環(huán)品質(zhì)管理系統(tǒng)。