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半導體大數(shù)據(jù)分析平臺
半導體數(shù)據(jù)智能分析和監(jiān)控平臺

海量數(shù)據(jù)如何挖掘真正價值?

在半導體制程不斷向前的當下,數(shù)據(jù)密集帶來的挑戰(zhàn)日益凸顯,提升良率除了從技術上調整之外,端到端全產業(yè)鏈的數(shù)據(jù)分析顯得尤為關鍵。
數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理
數(shù)據(jù)分析平臺需快速存取、關聯(lián)整合從設計、制造到封裝測試各環(huán)節(jié)產生的海量數(shù)據(jù),以加速產品開發(fā)、提升成品率,進行有效的供應鏈管理
高效分析平臺
提供具有高效、針對性的分析功能,有效地幫助半導體企業(yè)提升成品率和提高產品性能
數(shù)據(jù)可視化
軟件簡潔,提供拓展功能,可快速更新數(shù)據(jù),快速分析并建立可視化圖表,適合工程師快速應用
DataExp數(shù)據(jù)分析平臺:兼顧快速瀏覽與深入分析
  • 數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理
    支持測試數(shù)據(jù)、工藝參數(shù)、晶圓缺陷數(shù)據(jù)及圖像等
    多類型數(shù)據(jù)導入并進行統(tǒng)一管理
  • 配置數(shù)據(jù)大屏
    配置有豐富的開箱即用數(shù)據(jù)大屏(Dashboard),以滿足集成電路
    數(shù)據(jù)分析領域日常查看、監(jiān)控數(shù)據(jù)的需求
  • 可視化高交互
    平臺可視化的高交互應用前端,方便用戶多樣化靈活分析數(shù)據(jù)
  • 分布式數(shù)據(jù)管理
    底層數(shù)據(jù)架構采用了最新的分布式數(shù)據(jù)庫及管理系統(tǒng),
    確保有效快速的存取/數(shù)據(jù)整合,具有靈活的擴展性, 
    能夠方便地在平臺基礎上衍生很多其他的應用

簡介

DE-G
通用半導體數(shù)據(jù)分析軟件
DE-YMS
半導體制造全流程數(shù)據(jù)管理分析系統(tǒng)
DE-DMS
缺陷管理分析系統(tǒng)
INF-AI
工業(yè)智能化集成平臺
INF-ADC
自動缺陷分類系統(tǒng)
INF-WPA
智能高效的晶圓缺陷圖案分析系統(tǒng)
DE-RF
RF數(shù)據(jù)分析軟件
DE-FDC
設備監(jiān)控系統(tǒng)
DE-SPC
統(tǒng)計過程控制系統(tǒng)
DE-Alarm
智能良率、品質異常檢測及報警系統(tǒng)
DE-iCASE
半導體缺陷異常智能化診斷系統(tǒng)
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