DE-YMS
半導(dǎo)體制造全流程數(shù)據(jù)管理分析系統(tǒng)
DE-YMS簡介
DataExp-YMS(簡稱: DE-YMS) 支持集成電路生產(chǎn)制造過程中的CP、FT、WAT、Inline、Defect、WIP等多類型數(shù)據(jù)智能化分析，為客戶提供“一站式”數(shù)據(jù)分析管理平臺。
系統(tǒng)通過特有的算法支持和合理的數(shù)據(jù)處理流程，能夠快速完成底層數(shù)據(jù)清洗、連接、整合工作，為Fab和 Fabless企業(yè)提供數(shù)據(jù)管理、良率分析、低良率成因下鉆分析等方案。
同時，DE-YMS基于分布式數(shù)據(jù)庫，具備友好的工具使用界面，為客戶提供海量數(shù)據(jù)的有效存取并整合的快捷頁面，以及方便靈活的交互分析服務(wù)，實現(xiàn)數(shù)據(jù)資源的統(tǒng)一管理和芯片良率的直觀表達，極大地提高工程師的工作效率。
系統(tǒng)通過特有的算法支持和合理的數(shù)據(jù)處理流程，能夠快速完成底層數(shù)據(jù)清洗、連接、整合工作，為Fab和 Fabless企業(yè)提供數(shù)據(jù)管理、良率分析、低良率成因下鉆分析等方案。
同時，DE-YMS基于分布式數(shù)據(jù)庫，具備友好的工具使用界面，為客戶提供海量數(shù)據(jù)的有效存取并整合的快捷頁面，以及方便靈活的交互分析服務(wù)，實現(xiàn)數(shù)據(jù)資源的統(tǒng)一管理和芯片良率的直觀表達，極大地提高工程師的工作效率。
Manage All Data Through Chip Life Cycle
主要功能
功能板塊
應(yīng)用場景
