主要功能
INF-ADC
自動缺陷分類系統(tǒng)
INF-ADC簡介
自動缺陷分類系統(tǒng)
隨著半導體晶圓生產制造的技術復雜性增加，傳統(tǒng)的人工缺陷檢測無法滿足需求。運用人工智能技術，搭配高效能的GPU計算能力，進行產品瑕疵檢測和缺陷分類，可有效節(jié)約成本，提升良率。
廣立微ADC (Automatic Defect Classification) 是基于圖像識別和機器視覺等AI技術，支持對晶圓生產制造過程中不同工序、工藝、機臺的缺陷圖片進行自動分類的全套解決方案，界面友好，交互便捷，無需機器學習經驗，支持用戶零代碼進行ADC模型的快速開發(fā)與應用。
廣立微ADC (Automatic Defect Classification) 是基于圖像識別和機器視覺等AI技術，支持對晶圓生產制造過程中不同工序、工藝、機臺的缺陷圖片進行自動分類的全套解決方案，界面友好，交互便捷，無需機器學習經驗，支持用戶零代碼進行ADC模型的快速開發(fā)與應用。
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產品優(yōu)勢
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操作便捷性：
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適用范圍廣：
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分類精度高：
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系統(tǒng)性能高：
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