產品優(yōu)勢及主要功能
產品優(yōu)勢
- 強大的版圖引擎，支持產品芯片大版圖的關鍵特征信息提取
- 強大的運算引擎，實現產品芯片成品率的高效預測和分析
主要功能
- 芯片成品率建模與校準
- 版圖關鍵特征信息提取
- 產品芯片成品率預測
- 成品率影響因素分析
- 結果可視化圖表生成
Virtual Yield
芯片良率建模工具
Virtual Yield簡介
盡管集成電路制造工藝技術已經日臻成熟，但隨機缺陷仍然是導致良率損失的主要因素。特定尺寸缺陷的中心落入導致 IC 功能故障的區(qū)域被稱為關鍵區(qū)域，準確的關鍵區(qū)域分析結果可以幫助設計者深入分析和理解設計中的潛在問題。
Virtual Yield是一款基于成品率模型和產品芯片版圖對產品芯片的成品率進行預測和分析的自動化軟件。通過精確的產品芯片成品率預測數據和全面的影響因素比對分析報告，幫助設計者洞悉優(yōu)先級排序的良率影響，從而最大限度地提高設計的可制造性。
Virtual Yield是一款基于成品率模型和產品芯片版圖對產品芯片的成品率進行預測和分析的自動化軟件。通過精確的產品芯片成品率預測數據和全面的影響因素比對分析報告，幫助設計者洞悉優(yōu)先級排序的良率影響，從而最大限度地提高設計的可制造性。
設計優(yōu)勢
- 友好的圖形用戶界面，直觀的可視化圖表繪制
- 支持多種業(yè)界主流成品率模型，并允許使用測試芯片數據進行模型校準
- 針對不同成品率失效模式，對產品芯片的版圖進行關鍵特征信息的提取
模型分類
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