平臺優(yōu)勢
- 涵蓋DFT全流程工具，支持MCU、AI、GPU、Network、5G基帶、AP等不同應(yīng)用領(lǐng)域芯片和規(guī)模的DFT設(shè)計實現(xiàn)需求，并且支持系統(tǒng)級測試的In-System-Test，以支持汽車電子的功能安全測試方案。
- 全方位的良率提升方案，可以適應(yīng)不同工藝、不同F(xiàn)ab的要求。通過DFT Diagnosis和Fab 大數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)，可快速發(fā)現(xiàn)影響良率的根因，建立提升方案。
- 從DFT的測試診斷結(jié)果，可結(jié)合DATAEXP-YMS中多維度的芯片相關(guān)數(shù)據(jù)，如產(chǎn)品版圖、WAT/CP/FT測試數(shù)據(jù)、產(chǎn)線上的工藝步驟、設(shè)備、和缺陷等監(jiān)控數(shù)據(jù)，從而更精準地識別故障行為和分析故障根因，加速芯片產(chǎn)品上市場的周期。
- DFT自動化實現(xiàn)流程，以及完備的版本驗收流程。同時支持RTL和Netlist Flow，并且通過Hierarchical DFT 和Hierarchical ATPG流程，加速產(chǎn)品Time-To-Market；建立完備的版本驗收流程，滿足各種工藝設(shè)計的DPPM要求。
