主要功能
- 支持產(chǎn)品版圖器件列表自動提取
- 內(nèi)置數(shù)據(jù)庫引擎，可支持MySQL存儲和管理器件列表
- 靈活的目標器件定義方式
- 強大的目標器件選取算法
- 支持目標器件自動識別和引腳提取
- 強大的自動化繞線算法
- 內(nèi)置繞線的差錯檢查
- 內(nèi)置DRC的無差錯設(shè)計
- 支持LVS自動驗證
- 支持多用戶協(xié)同工作模式
ICSpider
產(chǎn)品芯片成品率和性能診斷
ICSpider簡介
ICSpider是一款用于產(chǎn)品芯片成品率和性能診斷的定制化測試芯片設(shè)計工具。產(chǎn)品導(dǎo)入和量產(chǎn)階段，版圖的物理環(huán)境變得更加復(fù)雜多樣，每個產(chǎn)品芯片的設(shè)計成熟度和工藝敏感度都不同，會出現(xiàn)很多在工藝開發(fā)階段未發(fā)現(xiàn)或者未重視的問題。
通過ICSpider，客戶可以在保證產(chǎn)品芯片前道工藝層不變的前提下，用最少的代價改變后道工藝層，獲取基于產(chǎn)品版圖的器件電性參數(shù)，幫助客戶更直觀、高效、有針對性地提升產(chǎn)品成品率和性能指標。
通過ICSpider，客戶可以在保證產(chǎn)品芯片前道工藝層不變的前提下，用最少的代價改變后道工藝層，獲取基于產(chǎn)品版圖的器件電性參數(shù)，幫助客戶更直觀、高效、有針對性地提升產(chǎn)品成品率和性能指標。
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基于產(chǎn)品版圖的電性測試
在保證產(chǎn)品芯片前道工藝層不變的前提下，改變后道工藝層，將關(guān)鍵器件直連到PAD，從而實現(xiàn)對產(chǎn)品芯片關(guān)鍵器件在真實物理環(huán)境下的直連測試
自動化后道工藝層改造全流程
全流程主要包括靈活的目標器件定義方式、強大的目標器件選取算法、支持目標器件自動識別和引腳提取以及強大的自動化繞線算法
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應(yīng)用案例
在一個技術(shù)開發(fā)項目中，公司通過ICSpider工具設(shè)計的產(chǎn)品診斷芯片，對產(chǎn)品中大量器件進行實際性能的測試，發(fā)現(xiàn)在數(shù)以百萬級的器件中，部分器件電性參數(shù)偏離模型、速度過快。
通過對設(shè)計版圖的仔細分析，發(fā)現(xiàn)該部分器件的設(shè)計特征共性與性能偏離的物理原因。一方面，項目組將該發(fā)現(xiàn)反饋到代工廠的技術(shù)團隊，進行有針對性的工藝排查；另一方面，通過改進版圖、生成新的光罩，直接調(diào)整相應(yīng)的器件特性，在保持產(chǎn)品速度性能的前提下，降低了芯片的整體功耗。
