近日，在格科半導(dǎo)體舉辦的首屆供應(yīng)商頒獎(jiǎng)大會(huì)上，廣立微憑借其在半導(dǎo)體測試與分析領(lǐng)域的卓越技術(shù)創(chuàng)新與杰出貢獻(xiàn)，榮獲了“研發(fā)先鋒獎(jiǎng)”。此次獲獎(jiǎng)不僅是對廣立微在技術(shù)創(chuàng)新方面的肯定，更是對其在推動(dòng)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展中所扮演的重要角色的認(rèn)可。

格科半導(dǎo)體此次以“格新質(zhì)遠(yuǎn)，科創(chuàng)共贏”為主題，旨在表彰在技術(shù)創(chuàng)新、產(chǎn)品質(zhì)量以及合作發(fā)展方面做出突出貢獻(xiàn)的供應(yīng)商伙伴。廣立微憑借其DataExp系列大數(shù)據(jù)分析平臺和晶圓級電性參數(shù)測試設(shè)備的出色表現(xiàn)，贏得了格科的高度認(rèn)可。

DE-YMS：半導(dǎo)體良率數(shù)據(jù)管理分析系統(tǒng)

系統(tǒng)支持集成電路設(shè)計(jì)制造測試過程中的多類型數(shù)據(jù)智能化分析，能夠快速完成底層數(shù)據(jù)清洗、連接、整合工作，為Fab和Fabless企業(yè)提供數(shù)據(jù)管理、良率分析、低良率成因下鉆分析等方案。

DE-YMS具備友好的工具使用界面，為客戶提供海量數(shù)據(jù)的有效存取、整合的快捷頁面以及方便靈活的交互分析服務(wù)。通過系統(tǒng)，工程師可實(shí)現(xiàn)對數(shù)據(jù)資源的統(tǒng)一管理和芯片良率的直觀表達(dá)，極大地提高工作效率，為優(yōu)化生產(chǎn)流程、提升產(chǎn)品質(zhì)量提供了有力支持。

INF-AI: 工業(yè)智能化集成平臺

人工智能（AI）正在逐漸應(yīng)用于半導(dǎo)體制造業(yè)，可通過快速的數(shù)據(jù)清洗處理、成熟穩(wěn)定的AI模型搭建、便捷的部署上線流程，幫助制造企業(yè)提高生產(chǎn)效率、降低制造成本、改善制造質(zhì)量等。

廣立微INFINITY-AI系統(tǒng)（簡稱INF-AI），包括自動(dòng)缺陷分類 (Automatic Defect Classification，ADC)、晶圓圖缺陷模式分析（Wafer Pattern Analysis，WPA）等應(yīng)用，致力于將AI 技術(shù)應(yīng)用于半導(dǎo)體制造業(yè)的生產(chǎn)全周期，助推良率和生產(chǎn)力進(jìn)一步提升，優(yōu)化投資回報(bào)。

INF-AI是針對半導(dǎo)體制造業(yè)的開放式機(jī)器學(xué)習(xí)平臺，支持用戶管理數(shù)據(jù)，一鍵訓(xùn)練、評測、部署模型，為半導(dǎo)體制造業(yè)AI賦能提供一站式解決方案。

晶圓級電性參數(shù)測試設(shè)備 助力品質(zhì)提升

廣立微的WAT測試設(shè)備以其高精度、高穩(wěn)定性以及高度自動(dòng)化的特點(diǎn)，贏得了眾多客戶的認(rèn)可。設(shè)備支持電流、電壓、電容等多項(xiàng)電性參數(shù)的測試，測試精度和分辨率均達(dá)到了行業(yè)領(lǐng)先水平。同時(shí)，其高效的測試產(chǎn)能和超并行測試能力，大大提高了測試效率，為半導(dǎo)體產(chǎn)品的品質(zhì)提升提供了有力保障。

此次榮獲格科研發(fā)先鋒獎(jiǎng)，是對廣立微技術(shù)創(chuàng)新方面的高度認(rèn)可。廣立微將不斷提升產(chǎn)品性能和服務(wù)質(zhì)量，為全球客戶提供更加優(yōu)質(zhì)的解決方案，為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展貢獻(xiàn)更多力量，推動(dòng)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展。