晶圓級(jí)電性參數(shù)測(cè)試設(shè)備
在集成電路的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)、工藝制造和產(chǎn)品驗(yàn)證過(guò)程中，對(duì)電性參數(shù)測(cè)試的需求日益提高， Semitronix 廣立微經(jīng)過(guò)十余年，自主研發(fā)高效電性參數(shù)測(cè)試設(shè)備和解決方案，已成功進(jìn)入國(guó)內(nèi)外多家領(lǐng)先的芯片設(shè)計(jì)類(lèi)（Fabless）企業(yè)、代工制造類(lèi) (Foundry）企業(yè)、垂直整合制造類(lèi)（IDM）企業(yè)和研發(fā)實(shí)驗(yàn)室（R&D Lab），協(xié)助完成多種測(cè)試任務(wù),并且高效、精確地提取器件和工藝相關(guān)的電性參數(shù)，實(shí)現(xiàn)以數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)芯片產(chǎn)品的功耗-性能-面積-成本(PPAC) 優(yōu)化、可靠性以及成品率提升。
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