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ICSpider
產(chǎn)品芯片成品率和性能診斷

ICSpider簡(jiǎn)介

ICSpider是一款用于產(chǎn)品芯片成品率和性能診斷的定制化測(cè)試芯片設(shè)計(jì)工具。產(chǎn)品導(dǎo)入和量產(chǎn)階段，版圖的物理環(huán)境變得更加復(fù)雜多樣，每個(gè)產(chǎn)品芯片的設(shè)計(jì)成熟度和工藝敏感度都不同，會(huì)出現(xiàn)很多在工藝開發(fā)階段未發(fā)現(xiàn)或者未重視的問題。
通過ICSpider，客戶可以在保證產(chǎn)品芯片前道工藝層不變的前提下，用最少的代價(jià)改變后道工藝層，獲取基于產(chǎn)品版圖的器件電性參數(shù)，幫助客戶更直觀、高效、有針對(duì)性地提升產(chǎn)品成品率和性能指標(biāo)。
基于產(chǎn)品版圖的電性測(cè)試
在保證產(chǎn)品芯片前道工藝層不變的前提下，改變后道工藝層，將關(guān)鍵器件直連到PAD，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品芯片關(guān)鍵器件在真實(shí)物理環(huán)境下的直連測(cè)試

自動(dòng)化后道工藝層改造全流程
全流程主要包括靈活的目標(biāo)器件定義方式、強(qiáng)大的目標(biāo)器件選取算法、支持目標(biāo)器件自動(dòng)識(shí)別和引腳提取以及強(qiáng)大的自動(dòng)化繞線算法
主要功能
  • 支持產(chǎn)品版圖器件列表自動(dòng)提取
  • 內(nèi)置數(shù)據(jù)庫(kù)引擎，可支持MySQL存儲(chǔ)和管理器件列表
  • 靈活的目標(biāo)器件定義方式
  • 強(qiáng)大的目標(biāo)器件選取算法
  • 支持目標(biāo)器件自動(dòng)識(shí)別和引腳提取
  • 強(qiáng)大的自動(dòng)化繞線算法
  • 內(nèi)置繞線的差錯(cuò)檢查
  • 內(nèi)置DRC的無差錯(cuò)設(shè)計(jì)
  • 支持LVS自動(dòng)驗(yàn)證
  • 支持多用戶協(xié)同工作模式

應(yīng)用案例

在一個(gè)技術(shù)開發(fā)項(xiàng)目中，公司通過ICSpider工具設(shè)計(jì)的產(chǎn)品診斷芯片，對(duì)產(chǎn)品中大量器件進(jìn)行實(shí)際性能的測(cè)試，發(fā)現(xiàn)在數(shù)以百萬(wàn)級(jí)的器件中，部分器件電性參數(shù)偏離模型、速度過快。
通過對(duì)設(shè)計(jì)版圖的仔細(xì)分析，發(fā)現(xiàn)該部分器件的設(shè)計(jì)特征共性與性能偏離的物理原因。一方面，項(xiàng)目組將該發(fā)現(xiàn)反饋到代工廠的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，進(jìn)行有針對(duì)性的工藝排查；另一方面，通過改進(jìn)版圖、生成新的光罩，直接調(diào)整相應(yīng)的器件特性，在保持產(chǎn)品速度性能的前提下，降低了芯片的整體功耗。