簡介
DFT(Design for Test)技術(shù)作為業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)手段,通過在芯片設(shè)計(jì)時(shí)加入測(cè)試專用電路,增加芯片的可測(cè)試性。如何降低測(cè)試成本,同時(shí)測(cè)試電路占用芯片設(shè)計(jì)上較小的面積,達(dá)到更高的故障覆蓋率,已成為當(dāng)前產(chǎn)業(yè)界的一個(gè)關(guān)鍵難題。
廣立微與子公司億瑞芯聯(lián)合推出可測(cè)性設(shè)計(jì)自動(dòng)化和良率診斷解決方案及服務(wù)。成功案例包括國內(nèi)多家頭部的設(shè)計(jì)公司,產(chǎn)品涵蓋MCU,ADAS, GPU, CPU,AI,5G, Video。用戶可輕松應(yīng)對(duì)復(fù)雜的SoC芯片、大規(guī)模芯片的診斷測(cè)試、汽車電子的功能性安全測(cè)試以及良率提升等挑戰(zhàn),取得質(zhì)量與成本雙贏。