簡介
DFT(Design for Test)技術作為業(yè)界的標準手段,通過在芯片設計時加入測試專用電路,增加芯片的可測試性。如何降低測試成本,同時測試電路占用芯片設計上較小的面積,達到更高的故障覆蓋率,已成為當前產(chǎn)業(yè)界的一個關鍵難題。
廣立微與子公司億瑞芯聯(lián)合推出可測性設計自動化和良率診斷解決方案及服務。成功案例包括國內(nèi)多家頭部的設計公司,產(chǎn)品涵蓋MCU,ADAS, GPU, CPU,AI,5G, Video。用戶可輕松應對復雜的SoC芯片、大規(guī)模芯片的診斷測試、汽車電子的功能性安全測試以及良率提升等挑戰(zhàn),取得質(zhì)量與成本雙贏。