概述
現(xiàn)代汽車越來越依賴各種電子元器件，如引擎控制單元、安全系統(tǒng)、娛樂系統(tǒng)等，行業(yè)對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量和安全性要求非常高，芯片成品率的提高可以幫助確保電子元器件的穩(wěn)定性和可靠性，減少故障風(fēng)險(xiǎn)，提升汽車整體品質(zhì)。
汽車電子
減少故障風(fēng)險(xiǎn)，提升汽車整體品質(zhì)
廣立微晶圓級(jí)可靠性測(cè)試解決方案
廣立微WLR晶圓級(jí)可靠性測(cè)試設(shè)備，硬件穩(wěn)定性高，具有高量測(cè)精度和高效的量測(cè)效率，支持并行量測(cè)。同時(shí)，可以結(jié)合廣立微提供的定制化軟件系統(tǒng)來進(jìn)行軟硬件協(xié)同，可使其能夠滿足芯片各種可靠性測(cè)試的需求，包含：高電壓、高電流、長(zhǎng)時(shí)間以及高低溫量測(cè)等，通過模擬工作環(huán)境進(jìn)行全面檢測(cè)，確保在研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造中芯片的高質(zhì)量和可靠性。
DATAEXP大數(shù)據(jù)分析平臺(tái)
針對(duì)汽車電子進(jìn)行數(shù)據(jù)分析、管理和溯源
- SPAT (Static Part Average Testing)
- DPAT (Dynamic Part Average Testing)
- AEC DPAT (Automotive Electronics Council Dynamic Part Average)
- NNR (Nearest Neighbor Residual)
Automotive DFT
- In-System-Test
IST Controller and LBIST Controller Insertion
DMA Mode IST Integration to Support Power Self-test
CPU Interface IST Integration to Support Periodic Self-test
IST+MBIST+LBIST Verification
- Low DPPM solution
Automotive Level ATPGUser Defined MBIST AlgorithmHigh Coverage Implementation( Scan Structure + Testpoint)
