DataExp數(shù)據(jù)分析平臺(tái):兼顧快速瀏覽與深入分析
- 數(shù)據(jù)統(tǒng)一管理
支持測試數(shù)據(jù)、工藝參數(shù)、晶圓缺陷數(shù)據(jù)及圖像等
多類型數(shù)據(jù)導(dǎo)入并進(jìn)行統(tǒng)一管理 - 配置數(shù)據(jù)大屏
配置有豐富的開箱即用數(shù)據(jù)大屏(Dashboard),以滿足集成電路
數(shù)據(jù)分析領(lǐng)域日常查看、監(jiān)控?cái)?shù)據(jù)的需求 - 可視化高交互
平臺(tái)可視化的高交互應(yīng)用前端,方便用戶多樣化靈活分析數(shù)據(jù) - 分布式數(shù)據(jù)管理
底層數(shù)據(jù)架構(gòu)采用了最新的分布式數(shù)據(jù)庫及管理系統(tǒng),
確保有效快速的存取/數(shù)據(jù)整合,具有靈活的擴(kuò)展性,
能夠方便地在平臺(tái)基礎(chǔ)上衍生很多其他的應(yīng)用