• 測試芯片EDA&IP
  • SmtCell 功能強(qiáng)大的參數(shù)化單元?jiǎng)?chuàng)建工具
  • TCMagic 通用型的測試芯片版圖自動(dòng)化設(shè)計(jì)平臺(tái)
  • ATCompiler 可尋址測試芯片設(shè)計(jì)平臺(tái)
  • Addressable IP 可尋址測試芯片
  • ICSpider 產(chǎn)品芯片成品率和性能診斷
  • Dense Array 超高密度測試芯片設(shè)計(jì)及快速測試技術(shù)
  • HDYS 高密度工藝監(jiān)測電路IP
• DATAEXP大數(shù)據(jù)分析平臺(tái)
  • DE-G 通用半導(dǎo)體數(shù)據(jù)分析軟件
  • DE-YMS 半導(dǎo)體制造全流程數(shù)據(jù)管理分析系統(tǒng)
  • DE-DMS 缺陷管理分析系統(tǒng)
  • INF-AI 工業(yè)智能化集成平臺(tái)
  • INF-ADC 自動(dòng)缺陷分類系統(tǒng)
  • INF-WPA 智能高效的晶圓缺陷圖案分析系統(tǒng)
  • DE-RF RF數(shù)據(jù)分析軟件
  • DE-FDC 設(shè)備監(jiān)控系統(tǒng)
  • DE-SPC 統(tǒng)計(jì)過程控制系統(tǒng)
  • DE-Alarm 智能良率、品質(zhì)異常檢測及報(bào)警系統(tǒng)
  • DE-iCASE 半導(dǎo)體缺陷異常智能化診斷系統(tǒng)
• DFM軟件
  • CMPEXP 高效CMP建模與仿真工具
  • Virtual Yield 芯片良率建模工具
• DFT軟件
  • QuanTest 可測性設(shè)計(jì)自動(dòng)化和成品率診斷解決方案

晶圓級(jí)電性參數(shù)測試設(shè)備
• 晶圓級(jí)WAT測試設(shè)備
  晶圓級(jí)電學(xué)參數(shù)測試設(shè)備，為客戶提供準(zhǔn)確且高度自動(dòng)化的測試解決方案，用于高效監(jiān)控工藝
• 晶圓級(jí)WLR測試設(shè)備
  晶圓級(jí)可靠性(WLR)測試設(shè)備，快速準(zhǔn)確評(píng)估元器件是否能保持其電性規(guī)格高一致性的能力
• 工藝開發(fā)測試設(shè)備
  應(yīng)用于技術(shù)研發(fā)階段，大幅提升測試效率和精度

• 成品率提升服務(wù)（Yield Ramp Service)
  為新工藝節(jié)點(diǎn)開發(fā)提供定制化服務(wù)，實(shí)現(xiàn)工藝開發(fā)周期的縮短和成品率的提升
• DFT 設(shè)計(jì)服務(wù) （DFT Design Service）
  DFT（Design for Test）技術(shù)作為業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)手段，通過在芯片設(shè)計(jì)時(shí)加入測試專用電路，增加芯片的可測試性